Béatrice Daille*, Éric Villemonte de La Clergerie**, Yves Lepage***, Jean-Luc Minel**** et Pascale Sébillot*****
*LINA, université de Nantes; beatrice.daille@univ-nantes.fr
**Alpage, INRIA Paris-Rocquencourt; eric.de_la_clergerie@inria.fr
***IPS, université Waseda, Japon; yves.lepage@waseda.jp
****MoDyCo, université Paris-Ouest Nanterre La Défense; jminel@u-paris10.fr
*****IRISA, INSA de Rennes; pascale.sebillot@irisa.fr
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