Éric Villemonte de la Clergerie*, Yves Lepage**, Jean-Luc Minel*** et Pascale Sébillot****
*Alpage, INRIA Paris-Rocquencourt; eric.de_la_clergerie@inria.fr
**IPS, université Waseda, Japon; yves.lepage@waseda.jp
***MoDyCo, université Paris-Ouest Nanterre La Défense; jminel@u-paris10.fr
****IRISA, INSA de Rennes; pascale.sebillot@irisa.fr
Paru dans
Document
Rank
0