Béatrice Daille*, Yves Lepage**, Jean-Luc Minel*** et Éric Villemonte de la Clergerie****
*LINA, université de Nantes beatrice.daille@univ-nantes.fr
**IPS, université Waseda, Japon yves.lepage@waseda.jp
***MoDyCo, université Paris-Ouest Nanterre La Défense jminel@u-paris10.fr
****Alpage, INRIA Paris-Rocquencourt eric.de_la_clergerie@inria.fr
Paru dans
Document
Rank
0